キセノンフラッシュ試験装置（DXF）
高性能かつ高速キセノンソースと特許取得済みの光伝送光学部品を組み合わせ、最高900°Cの温度範囲で最高精度の熱拡散率測定を実現
TAインスツルメントは、-150°C～2800°Cの温度範囲でフラッシュ法を用いて熱拡散率を測定するベンチトップ型と床置き型のレーザーフラッシュおよびキセノンフラッシュ法熱拡散率測定装置を提供しています。すべてのシステムに、生産性を数倍向上させる複数のサンプルを対象とした試験を可能にする機能が装備されています。常時パルスマッピング、高精度の光学部品、最新のデータ分析モデルが採用されたDiscovery Flashプラットフォームは、同種の製品の中で最も高い正確度と精度を発揮するシステムです。
